广东优科检测是UL授权的第三方检测认证公司。自有实验室，已获得UL248免目击实验室授权和IEC60269标准认证检测资质，可提供熔断器UL认证、TUV认证及CQC认证服务。接下来继续为大家介绍低压熔断器UL标准和IEC标准的差异。

2.2 定义

（1）熔断器。IEC的熔断器定义中有“熔断器由形成完整装置的所有部件组成”规定，即熔断器包括熔断体和熔断器支持件。UL无类似的规定。根据UL的定义条款相应于IEC的定义条款的说明，UL的“2.1.3熔断器”条款号正好相应于IEC“2.1.3熔断体”的条款号，故UL的熔断器的定义按IEC的定义应为熔断体。
（2）可更新熔断器。UL有此定义，意指熔断器动作后，通过更换熔体将熔断器恢复至工作状态。UL248-7《H类可更新熔断器》中专门规定了相应的要求，其中更新熔体的时间限制为10min。IEC无相应的定义。
（3）低熔点熔断器。UL有此定义，意指熔断器在200℃的环境温度中承载10%的额定电流应该熔断。UL248-6《H类非更新熔断器》中有相应的试验规定。其中试验期限为6h。即在6h内该熔断器应熔断。IEC无相应的定义。
（4）延时熔断器。UL有此定义，意指熔断器在规定的最短时间内承载规定的过电流的能力。IEC由于引入了UL的J类和L类熔断器，所以在5.7.1中增加了“gD”和“gN”这2个分断范围和使用类别，即：①“gD”表示全范围分断能力延时熔断体；②“gN”表示全范围分断能力非延时熔断体。

2.3 正常工作条件
IEC规定了熔断器详细的正常工作条件，从周围空气温度、海拔、大气条件、电压、电流至频率、功率因数与时间常数，安装条件、使用类别和熔断体的选择性。
UL规定的比较简单，只是说明了熔断器应在正常的周围温度条件下在清洁和干燥环境中使用，并附带了一句，如熔断器用于极端条件下应与制造厂协商。
由于IEC规定的比较具体，标准的可操作性比较强。

2.4 分类
IEC先将熔断器分为专业人员使用、非熟练人员使用和半导体设备保护使用3个部分，再在每个部分中按其所属的熔断器系统分类并进行具体举例，如非熟练人员使用的熔断器中列举了D型熔断器，A型、B型、C型圆管式熔断器等。
UL按熔断器的尺寸、分断能力和电气性能分类，并使用相应的字母进行具体分类，如：C类、G类、J类......T类等熔断器。

2.5 额定电压
IEC和UL的熔断器额定电压如表4所示。

从表4可看出，由于北美的电网系统及电器的使用和安装要求与其他地区有所不同，所以无论是交流或直流，UL与IEC的熔断器额定电压都存在着一定的差异；特别是常用的AC 300V及以下的额定电压差异比较明显。

2.6 额定电流

IEC和UL熔断体的额定电流如表5所示。

从表5可见，UL额定电流分级特别细，有许多是1A以下的额定电流，这与它包括的微型熔断器有关。此外，UL额定电流有带分数的值，如1-1/8A，17-1/2A等，这与IEC标准也不相同。

2.7 额定分段能力
IEC和UL均没规定具体的额定分断能力值，但UL规定了如下的推荐值：10、20、50、100、150或200kA。
相比之下，UL规定更为具体。

2.8 标志
除了通常的制造厂名称、商标、额定电流、额定电压等外，IEC要求熔断体适用时标上使用类别；并列举了额定电流和额定电压标志法。
UL除了通常的标志外，还要求标上适当的熔断器类别。对鉴定合格的熔断体UL还要求标上“延时”、“限流”等标志。

2.9 约定时间和约定电流
约定时间和约定电流是熔断器最基本的性能指标之一，他反映了熔断器的熔化特性。约定电流包括约定熔断电流和约定不熔断电流；约定时间即规定时间。约定时间和约定电流表示在规定的时间内熔断体通以规定的电流时应该动作或不动作，由此可以确定熔断器最重要的特性曲线---时间-电流特性最初的定位，同时便于用户对熔断器的选择使用。

IEC的约定时间和约定电流见表6。UL中没具体的约定时间和约定电流，但根据标准的内容以及IEC60269-2-1中对J、L类熔断器的规定，UL相应的约定时间和约定电流可大致归结为如表7所示。


从表6和表7可看出，无论是约定不熔断电流还是约定熔断电流，IEC和UL标准之间均存在着明显的差异。IEC的约定不熔断电流值和约定熔断电流值均大于UL相应的值。

2.10 温升与耗散功率
温升和耗散功率反映了熔断器在运行中的发热情况。熔断器基本上是一个纯电阻性元件，在电路中发热情况比较严重；特别是保护半导体设备的熔断器更是如此。这带来2个问题，一是熔断器散发的热量引起环境温度升高，影响周围电器的运行；二是本身功耗比较大，消耗能源多。如今在环保及能源问题日趋严重的情况下，人们对熔断器不仅提出了“高分断”的要求，更提出了“低功耗”的要求。这也是熔断器当今技术发展趋势之一。

对于熔断器支持件，IEC和UL都规定了温升极限值。IEC按不封闭的熔断器和封闭的熔断器规定了两种温升值。UL则规定了摄氏和华氏两种温度。对于所测部位，IEC规定了触头和接线端子；UL则按元件和绝缘材料划分。熔断器的温升最常见的是测接线端子的温升。IEC接线端子的温升值按接线端子所用的材料及镀层规定。如对不封闭的熔断器来说，裸铜为55℃，裸黄铜为60℃，镀锡为65℃。UL一般接线端子温升规定为50℃；但对T类额定电流超过100A熔断器和J类额定电流400A或600A熔断器其温升规定为60℃；对标志使用75℃导线的额定电流≤100A的熔断器其接线端子温升可为65℃。所以就一般情况而言，UL接线端子的温升比IEC规定的稍低。

对于熔断体，IEC规定了其耗散功率在额定电流下不应超过制造厂或系列标准中规定的相应值。UL与IEC不同，它对熔断体没规定耗散功率要求。既然不规定熔断体的耗散功率，当然也就没有了IEC的对熔断器支持件接受功率的要求。UL对熔断体耗散功率尽管没要求，但其对熔断体规定了温升要求。也就是说，UL对熔断体和熔断器支持件都只有温升要求，而未对熔断体的耗散功率和对熔断器支持件接受功率的要求。

还得提及的一点是，UL熔断体的温升试验电流按熔断体的额定电流大小而定，对于额定电流600A及以下的熔断器，其温升试验电流为1.0In；对于额定电流600A以上的熔断器，其温升试验电流为1.1In。如对于L类熔断器，由于其额定电流大于600A，故其温升试验电流便是1.1In。

未完待续...