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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2023-06-06 浏览数量：
AEC-Q认证振动冲击测试在于评估汽车电子元件在面对振动和冲击时的可靠性和耐久性。这些产品通常会在车辆的复杂工况下工作，例如在崎岖的道路上行驶、在高速公路上行驶时的颠簸以及急刹车等情况下。因此，这些产品必须能够承受来自车辆振动和冲击的影响，保持正常的功能和性能。
接受条件：0失效
测试方法：JEDEC JESD22-B103
标准 | 测试对象 | 测试数量 | 测试条件 |
AEC-Q100 | 集成电路 | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下 |
AEC-Q101 | 离散半导体 | 仅针对密封件 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g； |
AEC-Q102 | 离散光电半导体器件 | 3批次中各取10个 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g； |
AEC-Q103-002 | 微机电系统(MEMS)压力传感器器件 | 3批次中各取39个 | M1等级：20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g |
AEC-Q103-003 | 微机电系统(MEMS)麦克风器件 | 3批次中各取12个 | 20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＜12min，每轴向4次；峰值加速度20g;测试前后的性能检查在常温下 |
AEC-Q104 | 多芯片模块(MCM) | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下 |
接受条件：0失效
测试方法：JEDEC JESD22-B110
| 标准 | 测试对象 | 测试数量 | 测试条件 |
AEC-Q100 | 集成电路 | 15 | 仅Y1平面，5次冲击，脉冲持续时间0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。 |
AEC-Q101 | 离散半导体 | 仅针对密封件 | 1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要测试电气参数 |
AEC-Q102 | 离散光电半导体器件 | 3批次中各取10个 | 1500g,0.5ms，5击，3次/方向。 在MS前和MS后的测试，或仅在CA前和MS后进行测试。 |
AEC-Q103-002 | 微机电系统(MEMS)压力传感器器件 | 3批次中各取39个 | M1级： •测试条件：每轴双向5个脉冲，0.3ms持续时间，6000g峰值加速度等级M2： •测试前：下列每次测试#G3的恒定加速度（CA） •测试条件：每轴双向10个脉冲，0.3ms持续时间，6000g峰值加速度 替代测试条件：依照任务剖面（安装位置定义的机械条件） 室温下MS前后测试。 后测试：IV（PS11）和WBP（C2）进行5个装置的测试。 |
AEC-Q103-003 | 微机电系统(MEMS)麦克风器件 | 3批次中各取12个 | 3个脉冲，0.5毫秒持续时间，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室温下进行震动前后测试。 |
AEC-Q104 | 多芯片模块(MCM) | 15 | 仅Y1平面，5次冲击，脉冲持续时间0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。 |
优科是专业第三方AEC-Q认证机构，实验室具备AEC-Q100/101/102/103/104/200标准CNAS检测资质及CNCA发证资质，可提供车规级集成电路、分立半导体器件、光电半导体器件、传感器、被动元件等汽车电子元件AEC-Q检测认证服务。我们可依据产品使用条件和质量指标，定义符合汽车电子质量要求的测试计划，助力客户快速进入汽车电子市场。
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