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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2023-09-05 浏览数量：
AEC即Automotive Electronics Council，是美国汽车电子委员会的简称。AEC由克莱斯勒，福特和通用汽车发起并创立于1994年，目前会员遍及全球各大汽车厂、汽车电子和半导体厂商，符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下基础。AEC-Q为AEC组织所制订的车用可靠性测试标准，是零件厂商进入汽车电子领域，打入一级车厂供应链的重要门票。
AEC-Q100是AEC的第一个标准，主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准，此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。
车用一次性内存、电源降压稳压器、车用光电耦合器、三轴加速规传感器、视讯译码器、整流器、环境光传感器、非易失性铁电存储器、电源管理IC、嵌入式闪存、DC/ DC稳压器、车规网络通讯设备、液晶驱动IC、单电源差动放大器、电容接近式开关、高亮度LED驱动器、异步切换器、600V IC、GPS IC、ADAS高级驾驶员辅助系统芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器。
| 优科能力范围及 AEC-Q100 技术要求 | |||
| 序号 | 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| A组 加速环境应力测试 | |||
| A1 | 预处理 | PC | J-STD-020 JESD22-A113 |
| A2 | 有偏温湿度或有偏高加速应力测试 | THB/HAST | JESD22-A101 JESD22-A110 |
| A3 | 高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试 | AC/ UHST /TH | JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101 |
| A4 | 温度循环 | TC | JESD22-A104 和附录3 |
| A5 | 功率负载温度循环 | PTC | JESD22-A105 |
| A6 | 高温储存寿命测试 | HTSL | JESD22-A103 |
| B 组 加速寿命模拟测试 | |||
| B1 | 高温工作寿命 | HTOL | JEDEC JESD22-A108 |
| B2 | 早期寿命失效率 | ELFR | AEC-Q100-008 |
| B3 | 非易失性存储器耐久 | EDR | AEC-Q100-005 |
| C 组 封装组合完整性测试 | |||
| C1 | 绑线剪切 | WBS | AEC-Q100-001 |
| C2 | 绑线拉力 | WBP | MIL-STD 883 Method2011 |
| C3 | 可焊性 | SD | JESD22-B102 |
| C4 | 物理尺寸 | PD | JESD22-B100 JESD22-B108 |
| C5 | 锡球剪切 | SBS | AEC-Q100-010 |
| C6 | 引脚完整性 | LI | JESD22-B105 |
| D 组 芯片晶元可靠度测试 | |||
| D1 | 电迁移 | EM | / |
| D2 | 经时介质击穿 | TDDB | / |
| D3 | 热载流子注入 | HCI | / |
| D4 | 负偏压温度不稳定性 | NBTI | / |
| D5 | 应力迁移 | SM | / |
| E 组 电气特性确认测试 | |||
| E1 | 应力测试前后功能参数测试 | TEST | 规格书 |
| E2 | 静电放电(HBM) | HBM | AEC-Q100-002 |
| E3 | 静电放电 (CDM) | CDM | AEC-Q100-011 |
| E4 | 闩锁效应 | LU | AEC-Q100-004 |
| E5 | 电分配 | ED | AEC-Q100-009 |
| E6 | 故障等级 | FG | AEC-Q100-007 |
| E7 | 特性描述 | CHAR | AEC-Q003 |
| E9 | 电磁兼容 | EMC | SAE 1752/3 |
| E10 | 短路特性描述 | SC | AEC-Q100-012 |
| E11 | 软误差率 | SER | JESD89-1 JESD89-2 JESD89-3 |
| E12 | 无铅 (Pb) | LF | AEC-Q005 |
| F组 缺陷筛选测试 | |||
| F1 | 过程平均测试 | PAT | AEC-Q001 |
| F2 | 统计良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
| G 组 腔体封装完整性测试 | |||
| G1 | 机械冲击 | MS | JESD22-B104 |
| G2 | 变频振动 | VFV | JESD22-B103 |
| G3 | 恒加速 | CA | MIL-STD-883 Method2001 |
| G4 | 粗细气漏测试 | GFL | MIL-STD-883 Method1014 |
| G5 | 包装跌落 | DROP | / |
| G6 | 盖板扭力测试 | LT | MIL-STD-883 Method2024 |
| G7 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-883 Method2019 |
| G8 | 内部水汽含量测试 | IWV | MIL-STD-883 Method1018 |
优科检测是专业第三方AEC-Q100认证机构，实验室具备AEC-Q100标准CNAS全项检测资质和CNCA发证能力，可提供IC集成电路AEC-Q100认证服务。我们有众多集成电路测试专家和丰富的实验设备，致力于帮助您的产品满足AEC-Q100标准要求。我们提供具有差异性的高附加值服务，并以最短的项目交付时间满足您与IC产品相关的各种测试、检验、认证和保障需求。
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