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文章来源 : 广东优科检测 发表时间:2023-09-19 浏览数量:
优科检测认证是具备AEC-Q100标准CNAS全项检测能力和CNCA发证资质的AEC-Q100认证公司,可提供IC集成电路AEC-Q100认证服务。
AEC-Q100是AEC的第一个标准,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进行标准规范测试。
AEC-Q100有四个温度等级:0,1,2,3。其中0为最高级别,相应的温度区间为-40°C-150°C。若能达到0级要求则代表产品可以用于汽车各个部件。
温度范围是AEC-Q100核心标准之一。
车用一次性内存、电源降压稳压器、车用光电耦合器、三轴加速规传感器、视讯译码器、整流器、环境光传感器、非易失性铁电存储器、电源管理IC、嵌入式闪存、DC/ DC稳压器、车规网络通讯设备、液晶驱动IC、单电源差动放大器、电容接近式开关、高亮度LED驱动器、异步切换器、600V IC、GPS IC、ADAS高级驾驶员辅助系统芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器等。
类似于一般汽车零部件的DV测试,AEC-Q标准其实也就是一种对芯片本身的设计认可的测试标准,分为不同的测试序列,对芯片进行不同维度的测试。
AEC-Q100一共分为13个子标准,分别是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。
标准编号 | 标准名 | 中文含义 |
AEC-Q100 Rev-H | Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits(base document | 基于集成电路应力测试认证的失效机理 |
AEC-Q100-001 | Wire Bond Shear Test | 邦线切应力测试 |
AEC-Q100-002 | Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test | 人体模式静电放电测试 |
AEC-Q100-003 | Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test | 机械模式静电放电测试 |
AEC-Q100-004 | IC Latch-Up Test | 集成电路闩锁效应测试 |
AEC-Q100-005 | Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test | 非易失性存储程序/擦除耐久性、数据保持及工作寿命的测试 |
AEC-Q100-006 | Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) | 热电效应引起的寄生门极漏电流测试 |
AEC-Q100-007 | Fault Simulation and Test Grading | 故障仿真和测试等级 |
AEC-Q100-008 | Early Life Failure Rate (ELFR) | 早期寿命失效率 |
AEC-Q100-009 | Electrical Distribution Assessment | 电分配的评估 |
AEC-Q100-010 | Solder Ball Shear Test | 锡球剪切测试 |
AEC-Q100-011 | Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test | 带电器件模式的静电放电测试 |
AEC-Q100-012 | Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems | 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 |
AEC-Q100详细规定了一系列的测试,同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组:
测试群组A (环境压力加速测试,Accelerated Environment Stress)
测试群组B (使用寿命模拟测试,Accelerated Lifetime Simulation)
测试群组C (封装组装整合测试,Package Assembly Integrity)
测试群组D (芯片晶圆可靠度测试,Die Fabrication Reliability)
测试群组E (电气特性确认测试,Electrical Verification)
测试群组F (瑕疵筛选监控测试,Defect Screening)
测试群组G (封装凹陷整合测试,Cavity Package Integrity)
对于每个测试群组中的详细测试项目,在AEC-Q100标准中有详细的描述,并且每种测试的测试时间也根据Grade等级给出了不同的要求。在AEC-Q100的测试中,对于序列A中,测试的样品数很多都是77个,并且要求0 Fails,这就极大得增加了芯片测试的置信度。
AEC-Q100认证主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态,引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认,确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能,以及在连续使用后功能与性能是否能始终如一。
AEC-Q100标准的目标是提高产品的良品率,这对芯片供货商来说,不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。不管是投标还是占领市场,要想尽早进入汽车领域并且立足,AEC-Q100系列认证都将会是车规芯片认证的首选。
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