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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-04-30 浏览数量：
随着智能驾驶行业的风生水起，整车电子系统也变得愈加复杂，整车厂商为保证ECU(电子控制单元）的可靠性，一定会要求配套厂商提供车规级元器件，通过AEC-Q系列标准验证也将是汽车电子元器件厂商进行产品认证的大势所趋。
优科检测是专业第三方汽车电子元器件AEC-Q车规级认证办理机构，实验室具备AEC-Q104标准CNAS全项检测资质和CNCA发证能力，可提供红外车载模组AEC- Q104车规级认证办理服务。
AEC（美国汽车电子委员会）是全球车载电子部件可靠性以及认定标准化的权威机构。AEC-Q104是业内公认的车载应用多芯片模块可靠性应力测试标准。针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管控标准，提高车载电子的稳定性和标准化。
如果说AEC-Q100是车规芯片的敲门砖，那么AEC-Q104就是车规芯片模块的通行证。在AEC-Q100的基础上，AEC-Q104增加了板级可靠性检测以及顺序试验。AEC-Q100测项可以逐个分开进行，对芯片的考核可以通过增加样本的方式来减少同颗芯片的实验次数，但在AEC-Q104上，为了依据MCM在汽车上实际使用的复合式环境，顺序试验的要求愈发苛刻。
A组 加速环境应力测试
A1：预处理
A2：有偏温湿度或有偏高加速应力测试
A3：高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试
A4：温度循环
A5：功率负载温度循环
A6：高温存储寿命测试
B组 加速寿命模拟测试
B1：高温工作寿命
B2：早期寿命失效率
B3：NVM擦写次数，数据保持和工作寿命
C组 封装组合完整性测试
C1：绑线剪切
C2：绑线拉力
C3：可焊性
C4：物理尺寸
C5：锡球剪切
C6：引脚完整性
C7：X-RAY
C8：声学显微镜
D组 芯片晶元可靠度测试
D1：电迁移
D2：经时介质击穿
D3：热载流子注入效应
D4：负偏压温度不稳定性
D5：应力迁移
E组 电气特性确认测试
E1：应力测试前后功能参数测试
E2：静电放电（HBM）
E3：静电放电（CDM）
E4：闩锁效应
E5：电分配
E6：故障等级
E7：特性描述
E8：电磁兼容
E9：软误差率
E10：无铅
F组 缺陷筛选测试
F1：过程平均测试
F2：统计良率分析
G组 腔体封装完整性测试
G1：机械冲击
G2：变频振动
G3：恒加速
G4：粗细气漏测试
G5：跌落
G6：盖板扭力测试
G7：芯片剪切
G8：内部水汽含量测试
H组 模组特殊要求
H1：板阶可靠性
H2：低温存储寿命测试
H3：启动和温度冲击
H4：跌落
H5：破坏性物理分析
H6：X-RAY
H7：声学显微镜
注释：
• H：仅适用于密封封装的MCMs
• P：仅适用于塑封MCMs
• B：仅适用于BGA封装的MCMs
• N：非破坏性试验后，器件可再用于其他测试或生产
• D：破坏性试验后，器件不可再用于认证或生产
• S：仅适用于表面贴装MCMs
• G: 容许通用数据
• K：使用方法AEC-Q100-005对独立的非易失性存储器集成电路或具有非易失性存储器MCM的集成电路进行预处理。
• L：仅适用于无铅的MCMs
AEC-Q104对多芯片组件（MCM）的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。
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