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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-06-17 浏览数量：
根据大量使用和试验结果表明，元器件的失效呈现出两边高，中间低的“浴盆曲线”。因此，为保证由电子元器件组成的产品的可靠性，需要在元器件装上整机或设备之前，对元器件进行二次筛选，尽可能排除存在问题的元器件，是一件非常必要的工作。
1. 筛选的目的在于剔除早期失效的器件，不应影响正常产品的失效率
2. 筛选试验的设计不应引入新的失效模式
3. 在熟悉产品失效原理，了解各有关元器件的特性、材料、封装及制造技术的前提下，合理安排筛选试验的顺序。
| 检测类别 | 测试项目 | 方法标准 |
| 电测 | 电性能测试 常温测试/高温测试/低温测试 | GJB 33、GJB 63、GJB 65、GJB 1042、GJB 1432、GJB 1648、GJB 2438、GJB 2138、GJB 597 |
| 应力老练 | 低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击、功率老练 | GJB 360、GJB 128、GJB 548、GJB 33、GJB 63、GJB 65、GJB 1042、GJB 1432、GJB 1648、GJB 2438、GJB 2138、GJB 597 |
| 试验评估 | 密封（粗检漏、细检漏）、粒子碰撞噪声检测（PIND）、恒定加速度 | GJB 128、GJB 244、GJB 1214、GJB 733、GJB 264、GJB 1511、GJB 2600、GJB1518、GJB1508、GJB 809、GJB 681等 |
电性能测试
电参数作为衡量元器件合格与否的重要指标，在进行筛选时，往往需要反复对元器件的电参数进行测试以验证元器件的可靠性。目前，对常见的元器件，在进行筛选时，可参考的的测试参数如下表。
老炼试验
老炼试验作为一种加速电子元器件早期失效的手段，常用来筛选出早期失效产品,提高元器件可靠性。具体做法为在较长的时间内对元器件连续施加一定的电应力，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部各种物理、化学反应过程，促使元器件内部各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。
优科元器件筛选实验室配备专业老炼试验设备，可覆盖绝大多数的元器件类型，提供多种老炼条件（反偏、恒功率等），满足客户需求。
密封性测试-粗检漏
针对半导体器件、集成电路、电子产品进行细检和粗检。
最大充气压力：1MPa（+0.101MPa）
密封性测试-细检漏
对完成氦气填充的器件进行泄漏值的定量检测。
最小的检测精度为10^-12mg/m³
离心试验
提供离心加速度以加快设计缺陷产品的失效速度。
最大离心加速度40000g
PIND（颗粒碰撞噪声检测）
用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天等领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。
可提供最大振动加速度：20g
最大冲击加速度：2000g
优科元器件筛选实验室拥有齐全的元器件筛选、环境与可靠性试验检测能力，可开展包括阻容器件、分立器件、电连接器等产品的检测筛选与失效分析等工作；可承接部件、整机的环境与可靠性试验方案设计及实施等服务。
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