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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-08-12 浏览数量：
随着现代航天事业的蓬勃发展，电子元器件的可靠性成为确保航天系统安全和稳定运行的关键因素。电子元器件二次筛选试验是元器件装机前的重要保障过程。然而，操作不当或防护措施不足可能会为元器件的实际应用埋下隐患，甚至直接导致失效。因此，在二次筛选过程中，从环境控制、操作规范、静电防护以及DPA（破坏性物理分析）与FA（失效分析）等多个方面，做好可靠性保障工作至关重要。
温湿度控制：电子元器件对环境的温湿度有着严格要求，尤其是温度传感器、热敏电阻等对温度较为敏感的器件。元器件应尽量贮存在常温环境下，避免长期处于高温状态或在导热性能差的容器中运行，以防止因温度剧变或热应力疲劳导致失效。此外，贮存湿度过高会加速管脚腐蚀或电性能恶化，缩短元器件的有效贮存期。因此，根据QJ2227-92标准，应严格控制元器件的贮存湿度，确保其在适宜的环境中存放。
机械应力控制：元器件在操作过程中应轻取轻放，避免因外力造成外形变形或机械应力疲劳。在插入或拔出测试夹具时，应避免用力过大，以防止因机械损伤导致元器件失效。
辐射控制：对于光电器件等对辐射敏感的元器件，应尽量远离辐射源，防止因辐射损伤影响元器件性能。
静电来源及防护：静电广泛存在于日常生活和工业生产中，尤其是由于摩擦、感应生电或机械运动产生的静电。静电放电（ESD）可通过多种模型（如人体模型、机械模型、放电模型）对元器件造成损害，特别是在纳米器件和半导体材料中，其影响尤为突出。根据GB1649-93标准，元器件按静电敏感度分为三个级别，针对不同级别的元器件，应采取相应的静电防护措施，防止因静电损伤导致的失效模式，如开路、短路或特性曲线恶化等。
静电损伤及预防：静电放电可能直接击穿元器件或对其内部结构造成损伤。为避免静电损伤，在二次筛选实验室中，除了遵循相关标准进行防护外，还应从静电来源、泄放条件等方面加强防护措施，确保元器件在检测过程中不受静电干扰。
失效分析（FA）：FA是一种通过分析元器件失效原因，改进设计、工艺和管理的方法。其核心作用包括：为改进设计提供理论依据、预测可靠性模型、为筛选试验提供实际分析手段、决策是否整批淘汰，以及通过实施纠正措施提高元器件的成品率和可靠性。FA的有效实施可以显著减少重大工程中的故障率，提高系统的整体可靠性。
破坏性物理分析（DPA）：DPA作为FA的一种补充手段，通常在产品交付验收试验时由第三方进行。DPA的主要作用是通过对合格品的分析，早期发现电子元器件的潜在缺陷，反馈给生产厂商以改进生产工艺。DPA有助于识别异常批次产品，防止缺陷元器件流入实际应用中，从而保障产品的可靠性。例如，通过DPA试验，曾发现某批进口集成电路存在裂纹，及时拒用后，避免了潜在的可靠性问题。
在二次筛选过程中，人为操作失误也可能导致元器件失效。常见的失效原因包括程序设置不当、极性接反、错误信号输入、电应力过冲、适配器误用、插拔不当等。这些问题的预防措施包括：
- 严格按照操作规程设置程序，避免因设置错误导致元器件烧毁。
- 在装配和测试过程中，确保元器件的极性正确，避免因极性接反导致失效。
- 控制电应力，防止过冲对元器件造成的损害。
- 在使用适配器时，确保适配器与元器件的兼容性，避免因不当使用导致机械应力失效。
元器件的二次筛选试验是保障其可靠性的重要环节。通过严格的环境控制、静电防护、DPA与FA分析，以及操作规范管理，可以有效防止因筛选不当而导致的元器件失效，为航天等重大工程提供坚实的质量保障。在现代航天事业中，元器件的可靠性研究和保障工作已成为确保系统稳定性和安全性的基石。
优科检测是专业第三方电子元器件筛选机构，电子元器件筛选实验室面积约2400平米，已具备全套资质和专业团队36人，配备元器件筛选设备180台/套，可提供专业的电子元器件二次筛选、元器件失效分析（FA）及可靠性验证等服务。
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