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文章来源 : 广东优科检测 发表时间:2025-05-12 浏览数量:
二次筛选是确保半导体集成电路(IC)在严苛环境下可靠性的关键环节。优科检测认证作为CNAS资质认证的第三方检测机构,依据GJB597B-2012《半导体集成电路通用规范》,提供覆盖B级、BG级、S级质量等级的半导体集成电路二次筛选服务。我们通过16项严格检测项目(如温度循环、粒子碰撞噪声检测等),帮助军工、航天、通信等领域客户筛选出高可靠性元器件,降低应用风险。
目的:
1. 剔除潜在缺陷:通过环境应力、电性能测试等手段,发现早期失效的元器件,避免“带病上岗”。
2. 提升批次一致性:确保同一生产批次的器件性能稳定,满足军用或宇航级高可靠性需求。
原理:
模拟元器件实际使用中的极端环境(如高温、振动、湿度),结合电性能测试,暴露因材料、工艺或设计导致的缺陷,如键合不良、密封失效等。
根据GJB597B-2012标准,以下场景需进行二次筛选:
1. 高可靠性领域:航天器、卫星、军用设备等使用的S级(宇航级)和BG级(高可靠军用级)集成电路。
2. 关键供应链环节:进口元器件验证、国产化替代品质量评估。
3. 长期贮存后复用的元器件:确保存储后性能未退化。
核心标准:GJB597B-2012 4.4条款明确要求,所有交付的半导体集成电路需按质量等级(B/BG/S级)完成100%筛选试验,禁止以抽样替代全检。
检测项目覆盖:
- 环境应力筛选:温度循环、恒定加速度;
- 结构检测:密封性(细检/粗检)、X射线照相;
- 电性能验证:老炼测试、反偏老炼、最终电测试。
优科检测采用“全流程检测+失效分析”的一站式方案,具体流程包括:
1. 预处理:编序列号、封帽前内部目检。
2. 环境应力试验:温度循环(-55℃~125℃)、粒子碰撞噪声检测(PIND)等。
3. 性能验证:老炼测试(168小时以上)、非破坏性键合拉力试验(100%全检)。
4. 密封性检测:氦质谱细检与氟油粗检,确保气密性达标。
1. 需求确认:客户提供元器件型号、质量等级及检测要求。
2. 方案制定:优科技术团队定制筛选方案,明确检测项目与周期。
3. 样品检测:实验室完成全流程测试,同步记录失效数据。
4. 报告出具:7-15个工作日内提供CNAS认可的检测报告,含失效分析建议。
1. 专家团队
可靠性检测专家、定制化服务、专业人员技术培训服务,拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人。
2. 专业设备
配备各种规格的集成电路测试系统,老炼箱50余台、各类环境箱体20台套、机械性能与可靠性检测设备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测设备等。
3. 一站式方案服务
依据客户产品规格,准确制定元器件的筛选方案和规程\依据筛选结果,准确定位元器件失效机理,并依据客户需求给出元器件失效分析方案。
4. 权威保障
军用级检测体系控制+军方实验室认可检测设备,保证测试流程和测试精度,第三方公正检测机构。
半导体集成电路的二次筛选是保障高可靠设备稳定运行的核心环节。优科检测认证以专业能力与权威资质,为您的元器件质量保驾护航!如需咨询检测方案或获取报价,欢迎联系我们的技术团队。
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