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优科电子元器件恒定加速度筛选试验检测服务

文章来源 : 广东优科检测 发表时间:2024-06-24 浏览数量:

优科电子元器件筛选实验室占地约2400平米,拥有全套资质和专业团队36人,配备180台/套先进的元器件筛选设备。我们致力于为客户提供高质量的电子元器件筛选服务,包括恒定加速度筛选试验电子元器件二次筛选、元器件失效分析(FA)及可靠性验证等。


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恒定加速度筛选试验简介

恒定加速度筛选试验,又称离心加速度试验,是利用机械旋转产生恒定加速度,以测试元器件在离心加速度作用下的适应能力和结构牢固度。通过此试验,可以弥补冲击和振动试验中未能发现的结构或机械类型缺陷。

在实际工作环境中,元器件通常不会遭受很大的离心加速度,只有在特定情况下如飞机转弯、火箭发射或导弹改变方向时,可能会受到较大的离心加速度(10g~200g)。因此,国内外对元器件的筛选要求设定在5kg~30kg范围内,旨在筛选出粘片欠佳、内引线与键合点强度较差的器件,而不是模拟器件实际使用环境。


试验目的

恒定加速度筛选试验的主要目的是评估元器件在X/Y/Z/X-/Y-/Z-六个方向上承受离心力的能力。通过此试验,可以暴露出由于元器件结构强度低或固有机械缺陷引起的失效情况,如芯片脱落、内引线开路、框架变形和漏气等问题。


试验方法

我们常用的恒定加速度试验方法有两种:

1. 埋沙法

在埋沙法中,将元器件放入一个外形为立方体、内腔为圆柱体的夹具内固定住进行试验。这种方法能够有效固定元器件,并通过离心力测试其抗压能力。

2. 磁贴法

磁贴法利用磁力将元器件吸附在夹具上进行试验。这种方法简单便捷,但需要确保磁力足够强大以固定元器件。


可能暴露的缺陷

恒定加速度试验中可能暴露的缺陷包括:

- 结构缺陷

- 芯片粘片问题

- 芯片裂纹

- 引线键合缺陷

- 机械强度不足


注意事项

1. 施加的应力强度:应根据管壳质量、管壳内腔周长及器件类型严格按照标准规定执行,以免由于过应力给器件留下隐患。

2. 固定器件外壳:器件外壳应采用专用夹具固定,以免对外壳产生损伤性应力。例如,使用细砂物质作填充料的离心罐应尽量填实,并对器件表面加以保护,以免填充料磨损器件表面或压凹器件管帽。

3. 试验方向:对于内部元件主基座平面与Y轴垂直的器件,管壳安装方向应使芯片脱离粘结方向,即仅在称为Y1的方向进行试验。


优科电子元器件筛选实验室以专业的团队、先进的设备和严谨的实验方法,为客户提供高质量的恒定加速度筛选试验服务。欢迎联系咨询更多详细信息,我们将竭诚为您服务。


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