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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-11-18 浏览数量：
在现代电子产品制造过程中，确保电子元器件的高可靠性和稳定性能至关重要。电子元器件老化筛选是一种不可或缺的检测手段，它通过施加外部应力来加速潜在故障的暴露，帮助企业筛除早期失效的元器件，从而提高产品的整体可靠性和使用寿命。
电子元器件在生产和应用中可能由于制造缺陷或材料不稳定而存在早期失效的风险。这类故障通常发生在产品的“早期寿命阶段”，是由于材料不均匀、微观缺陷或生产工艺问题所致。老化筛选的主要目的是在早期阶段通过外部应力加速这些潜在问题的显现，以便在元器件正式应用之前将其排除。这样，不仅能减少产品在客户使用中的失效率，还能降低因故障引发的维护成本和售后问题。
电子元器件老化筛选通常涉及多种方法和测试流程，以应对不同类型的元器件和失效机制。以下是几种常见的老化筛选方法：
1. 高温存储老化
高温存储老化是一种通过高温环境对元器件施加热应力的测试方法。元器件在设定的高温条件下放置一段时间，以加速其内部化学变化及电参数的稳定性。例如，在+175℃环境下存放一小时，相当于在室温（+25℃）下存放1000小时。高温存储可暴露出元器件的表面化学不稳定性、正离子迁移现象和焊点虚焊等问题。
这种方法尤其适用于评估元器件在高温条件下的长期适应性。测试温度和时间需根据具体元器件的耐受能力和质量要求而定。通常，高温范围在120℃至300℃，时间为几十至几百小时不等。
2. 高低温冲击
高低温冲击是一种在不通电状态下交替进行的温度测试，用以模拟元器件在快速温度变化条件下的性能。测试通过在高温（如+125℃）和低温（如-55℃）之间交替存放，检验元器件在热胀冷缩应力下的结构稳定性。这种方法能揭示元器件内部因热膨胀系数不匹配而产生的潜在故障，如晶片裂纹、密封不良及焊接缺陷。
在实践中，元器件通常进行3至5次循环，单次高低温保持时间为30分钟，转换过程尽可能在一分钟内完成。这样能有效暴露早期故障，而不会影响正常的元器件。
3. 高温功率老化
高温功率老化是一种将元器件在通电状态下进行高温老化的筛选方法。这种方法更贴近实际应用环境，通过模拟元器件在电路中的工作条件，结合高温环境进行老化。测试温度一般在+80℃至+180℃之间。这类老化可识别因污染、焊接不良、漏电及热热点等问题导致的早期失效。
这种方法在暴露局部热点、氧化层缺陷及电参数不稳定等方面尤其有效，能够确保被筛选的元器件在实际应用中具有较高的可靠性和稳定性。
老化筛选作为电子元器件质量控制的一部分，能显著提高产品的整体可靠性。其主要优势包括：
- 提高产品一致性：老化筛选有助于筛除早期失效的元器件，确保投入使用的产品性能稳定，减少故障概率。
- 延长使用寿命：通过暴露潜在问题并筛除有缺陷的元器件，老化筛选提高了产品的使用寿命和抗老化能力。
- 降低售后成本：产品在使用过程中的故障减少，企业因产品维修和更换产生的售后成本随之降低。
电子元器件的老化筛选是一项专业且必要的质量保障手段。通过在元器件上施加适当的环境应力，老化筛选能够有效地暴露早期失效问题，帮助企业筛选出符合要求的高质量元器件。选择可靠的电子元器件老化筛选服务，不仅提高了产品在市场上的竞争力，也为客户提供了更稳定、更高效的产品体验。
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