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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-11-18 浏览数量：
随着电子设备在各行业中的广泛应用，电子元器件的可靠性与稳定性成为影响产品整体性能的核心因素之一。晶体管作为电子设备中的基础组件，其质量和可靠性直接影响设备的稳定运行。
为了在使用前检测并剔除潜在的早期失效器件，晶体管老化筛选是一种行之有效的方法。优科检测作为专业的第三方电子元器件检测机构，提供全面的电子元器件二次筛选服务，保障产品性能和使用寿命。
老化筛选是一种在人工施加外加应力的条件下，将电子元器件潜在缺陷显现出来的过程。通过施加热、电、机械等应力，筛选早期失效的元器件，确保进入使用阶段的器件具备更高的可靠性。
老化筛选通常包括以下几个步骤：
1. 初步检测：在进行老化筛选前，进行初测以记录初始参数。
2. 外加应力施加：在特定条件下（如高温、高低温冲击等），施加应力进行老化处理。
3. 复测：在老化后对元器件进行参数复测，以检测是否出现性能变化。
4. 筛选剔除：根据复测结果筛除性能下降或失效的元器件。
1. 高温存储筛选
高温存储是一种通过将晶体管暴露在高温环境下一定时间来加速潜在缺陷显现的老化方法。其目的是加速晶体管内部的化学反应、离子迁移等过程，以稳定电参数和检测可能的焊接问题。
- 硅晶体管：+125℃环境中存放24小时。
- 锗晶体管：+70℃环境中存放24小时。
在高温存储后，检测参数变化是否超过允许范围（如阻值变化超过±30%）。
2. 低温存储筛选
低温存储用于验证晶体管在极端低温环境下的稳定性和适应性，确保在实际应用中不会因温度骤降而失效。
- 硅和锗晶体管：-40℃～-45℃环境中存放24小时。
3. 高低温冲击筛选
高低温冲击是一种在快速变温的环境下测试晶体管耐受应力和结构完整性的方法。它能发现材料膨胀与收缩不匹配导致的裂纹、焊接不良等缺陷。
- 硅晶体管：+125℃与-45℃交替存放，每个温度持续半小时，循环三次，转换时间不超过1分钟。
- 锗晶体管：+70℃与-45℃交替存放，每个温度持续半小时，循环三次，转换时间不超过1分钟。
4. 功率老化筛选
功率老化方法是让晶体管在模拟实际电路的工作条件下运行，同时施加高温。这种方法特别适用于检测表面污染、焊接不良、漏电、晶片缺陷等。
- 常温功率老化：满功率通电8小时。
- 高温功率老化：+80℃至+180℃之间进行通电老化，检测电参数变化。
5. 动态电参数复测
在功率老化后，晶体管在稳定的高温条件下进行动态参数复测，以评估电性能变化。延迟时间的变化不得超过20%，以确认晶体管在高温环境下的性能稳定性。
老化筛选对于晶体管的可靠性和性能稳定性具有极其重要的意义。通过模拟器件在极端条件下的使用情况，可以提前暴露出早期失效的器件，避免将潜在问题带入最终产品。这不仅提高了产品的质量，还减少了因元器件失效引发的返修和维护成本。
优科检测深知电子产品质量的重要性，我们在老化筛选中采用先进的设备和严格的测试标准，提供全面的二次筛选服务，确保客户的电子元器件达到最高的可靠性要求。我们的专业筛选服务包括高温存储、高低温冲击、功率老化等，旨在为客户提供可靠的检测解决方案。
晶体管老化筛选是电子元器件质量控制中不可或缺的环节，它通过在极端条件下加速潜在缺陷显现，有效保障了元器件的长期稳定性和可靠性。优科检测凭借丰富的经验和专业技术，为客户提供高效、准确的老化筛选服务，助力电子产品在激烈的市场竞争中脱颖而出。选择我们，您将获得高品质的电子元器件保障和产品的持久稳定性。
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