薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求

文章来源 : 广东优科检测 发表时间:2021-11-15

AEC-Q200 REV D标准总共有14个表格,除表1列出通用测试的要求外,从表 2~14分别列出不同类型无源器件的测试方案和要求。薄膜电容AEC-Q200认证测试依据Table 4表格进行测试,广东优科检测具备AEC-Q200全项CNAS检测资质和检测能力,可提供薄膜电容AEC-Q200认证测试服务,接下来为大家介绍下薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求。


薄膜电容AEC-Q200认证测试


薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求

1. High Temperature Exposure (Storage) 高温存储

测试方法:MIL-STD-202 Method 108;

测试要求:1000小时。在额定工作温度下(例如,85°C的零件可在85°C下储存1000小时,同样适用于100°C和125°C的零件),不通电。试验结束后24±4小时进行测量。


2. Temperature Cycling 温度循环

测试方法:JES D22 Method JA-104;

测试要求:1000次循环(-55°C至85°C)注:如果部分温度为100°C或125°C,则1000次循环将处于该额定温度。试验结束后24±4小时进行测量。每个极端温度下的最大停留时间为30分钟。1分钟,最大过渡时间。


3. Moisture Resistance 湿度抵抗

测试方法:MIL-STD-202 Method 106;

测试要求:t=24小时/周期。注:不需要步骤7a和7b,不通电。试验结束后24±4小时进行测量。


4. Biased Humidity 偏高湿度

测试方法:MIL-STD-202 Method 103;

测试要求:1000小时40°C/93%相对湿度,额定电压。试验结束后24±4小时进行测量。


5. Operational Life 工作寿命

测试方法:MIL-STD-202 Method 108;

测试要求:1000小时TA=85°C,注:如果100°C或125°C为1000小时,则条件D(1000小时)。会在那个温度下。金属化膜:85℃时为额定电压的125%。85℃以上为额定电压的100%。试验结束后24±4小时进行测量。


6. External Visual 外观

测试方法:MIL-STD-883 Method 2009;

测试要求:检查产品结构、标记和工艺。不需要进行电气测试。


7. Physical Dimension 尺寸

测试方法:JESD22 Method JB-100;

测试要求:验证物理尺寸是否符合适用的产品规范。注:用户和供应商规范。不需要进行电气测试。


8. Terminal Strength (Leaded) 端子强度(引脚)

测试方法:MIL-STD-202 Method 211;

测试要求:仅测试引线设备的引线完整性。条件: A (2.27 kg), C (227 g), E (1.45 kg-mm)。


9. Resistance to Solvents 溶剂抵抗

测试方法:MIL-STD-202 Method 215;

测试要求:注:也可使用水性化学清洗剂-OKEM clean或同等产品。不要使用禁用溶剂。


10. Mechanical Shock 机械冲击

测试方法:MIL-STD-202 Method 213;

测试要求:方法213的图1。条件C


11. Vibration 振动

测试方法:MIL-STD-202 Method 204;

测试要求:5克20分钟,3个方向各12个周期,使用8“X5”PCB,.031”厚。8”一侧有7个安全点,另一侧有2个安全点。安装在距任何安全点2”范围内的零件。从10-2000赫兹进行测试。


12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接热

测试方法:MIL-STD-202 Method 210;

测试要求:注:SMD使用程序2;对于含铅使用程序1,焊料在装置主体1.5mm范围内。


13. ESD 静电放电

测试方法:AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605。


14. Solderability 可焊性

测试方法:J-STD-002;

测试要求:适用于含铅和SMD。不需要进行电气测试。放大50倍。条件:含铅:235°C时的方法A,第3类。SMD: a)方法B,155°C干热235°C下4小时

b)215°C时的方法b第3类。c)260°c时的方法D第3类。


15. Electrical Characterization 电气特性

测试方法:用户规格;

测试要求:按批次和样品尺寸要求进行参数化测试,总结以显示室温下的最小、最大、平均和标准偏差以及最小和最大工作温度。


16. Flammability 可燃性

测试方法:UL-94;

测试要求:可接受V-0或V-1。不需要进行电气测试。


17. Board Flex 板弯曲

测试方法:AEC-Q200-005;

测试要求:最短保持时间为60秒。


18. Terminal Strength (SMD) 端子强度(SMD)

测试方法:AEC-Q200-006。


薄膜电容AEC-Q200认证测试


薄膜电容AEC-Q200认证测试注意事项

1. 每个环境应力测试项目前后都要进行电参数测试,特别要求除外。

2. 1000小时的长时间老化测试会额外增加250,500,1000小时几个阶段。

3. 一般电参数测试会是在室温状态(25±5 °C )下进行,应力测试完成后24±4小时内进行。

4. No.15 电参数测试将会在宣称的低温,室温,高温中进行测试。

5. 接受条件和要求参数依据客户规格书进行判定,AEC-Q200所有测试只接受零失败。


薄膜电容AEC-Q200认证测试机构


以上就是关于薄膜电容AEC-Q200认证测试项目及要求的介绍,如果您有钽电容、陶瓷电容、铝电解电容、薄膜电容、可调电容等电容器产品需要做AEC-Q200认证测试,欢迎联系广东优科检测工程师!


微信咨询检测认证业务

您可以留下【检测、认证服务需求】和【联系方式】,我们会根据您的需求分配给相应的技术中心同事。
姓名 :
电话 :
公司 :
内容 :
验证码 : 刷新
400电话400-859-9559