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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2023-12-12 浏览数量：
优科检测是专业第三方AEC-Q102认证机构，实验室具备AEC-Q102标准CNAS全项测试资质和CNCA自主发证能力，可提供光电晶体管AEC-Q102认证服务，接下来为大家介绍光电晶体管AEC-Q102认证检测项目。
| 序号 | 测试项目 | 样品数 | 检测方法 | 适用类型 |
| A 加速环境应力试验 | ||||
| A1 | 预处理（PC） | JEDEC JESD22-A113 | 所有测试对象 | |
| A2c | 高湿度高温反向偏压（H³TRB） | 78 | JEDEC JESD22-A101 | 光电晶体管/光电二极管 |
| A3b | 间歇使用寿命（IOL） | 78 | MIL-STD-750-1 方法 1037 | 光电晶体管/光电二极管 |
| A4 | 温度循环（TC） | 78 | JEDEC JESD22-A104 | 所有测试对象 |
| B 组 加速寿命应力试验 | ||||
| B1c | 高温反向偏压（HTRB） | 78 | JEDEC JESD22-A108 | 光电晶体管/光电二极管 |
| C 组 封装组合完整性测试 | ||||
| C1 | 破坏性物理分析（DPA） | 2（每次测试） | AEC-Q102 附录 6 | 已成功完成TC、PTC/IOL、HTOL、WHTOL/H³TRB、H2S和 FMG 的委件的随机样本。(各取样2份）。 |
| C2 | 物理尺寸（PD） | 30 | JEDEC JESD22-B100 | 所有测试对象 |
| C3 | 绑线强度（WBP） | 15 | MIL-STD-750-2 方法 2037 | 所有测试对象 |
| C4 | 绑线剪切（WBS） | 15 | JESD22-B116 | 所有测试对象 |
| C5 | 芯片剪切（DS） | 15 | MIL-STD-750-2 方法 2017 | 所有测试对象 |
| C6 | 端子强度（TS） | 30 | MIL-STD-750-2 方法 2036 | 所有测试对象 |
| C7 | 凝露（DEW） | 78 | AEC-Q102-001 | 所有测试对象 |
| C8 | 耐焊接热（RSH） | 不需要单独进行耐焊锡热 RSH (回焊)测试，因为测试A1(预处理)已经覆盖。 | ||
| C10 | 可焊性（SD） | 30 | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(通孔) | 所有测试对象 |
| C11 | 晶须生长（WG） | AEC-Q005 | 仅适用于带银基连接的成品 | |
| C12 | 硫化氢（H2S） | 78 | IEC 60068-2-43 | 所有测试对象 |
| C13 | 混合气流测试（FMG） | 78 | IEC 60068-2-60 Test 试验方法 4 | 所有测试对象 |
| C14 | 板弯曲（BF） | 78 | AEC-Q102-002 | 所有测试对象 |
| E 组 光电验证试验 | ||||
| E0 | 目检（EV） | 所有测试样品 | JEDEC JESD22-B101 | 所有测试对象 |
| E1 | 应力前后电气和光度试验 | 所有测试样品 | 参考产品规格书 | 所有测试对象 |
| E2 | 参数验证（PV） | 78 | 单独AEC用户规范 | 所有测试对象 |
| E3 | 静电放电特性（HBM） | 30 | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 | 所有测试对象 |
| E4 | 静电放电特性（CDM） | 30 | AEC-Q101-005 | 所有测试对象 |
| G 组 空腔封装完整性测试 | ||||
| G1 | 恒定加速度（CA） | 30 | MIL-STD-750-2 方法 2006 | 所有测试对象 |
| G2 | 变频振动（VVF） | JEDEC JESD22-B103 工况 1 | 所有测试对象 | |
| G3 | 机械冲击（MS） | JEDEC JESD22-B110 | 所有测试对象 | |
| G4 | 密封性（HER） | JEDEC JESD22-A109 | 所有测试对象 | |
优科检测布局车载电子元器件领域检测认证多年，目前AEC-Q100、Q101、Q102、Q103、Q104、Q200已通过认监委自愿性认证备案（可通过认监委系统查询、验证：http://cx.cnca.cn/CertECloud/index/index/page）。
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