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文章来源 : 广东优科检测 发表时间：2024-09-03 浏览数量：
2022年8月，汽车电子委员会（AEC）正式发布了全新的AEC-Q102-003光电多芯片模组（OE-MCMs）认证标准。这一标准的出台，旨在对日益增长的光电模组认证需求提供全面的规范和指导，特别是在现有AEC-Q104多芯片模组的基础上，进一步细化了含有光电组件的多芯片模组的测试细节。
AEC-Q102-003标准定义的OE-MCMs包含至少一种光电器件，并由多个有源或无源器件构成。这些子组件通过焊接或胶粘方式连接到线路板上，构成复杂电路，最终封装在单个多芯片模组内。这些模组广泛应用于矩阵前照灯、智能RGB LED及红外传感器（如激光雷达模组）等产品中。
需要特别注意的是，OE-MCMs的认证应当涵盖整个模组，而不仅仅是其中的某一子组件。如果某产品仅以OE-MCM形式通过认证，模组中的任何单个子组件都不能单独被视为通过AEC认证。
根据标准，OE-MCMs被分为五种常见类型：
- Type A: 由不同家族光电器件组成，如红外线反射式光电开关。
- Type B: 光电器件利用其内部光电信号功能组成，如光耦、光栅传感器。
- Type C: 由光电器件与其他IC器件组成，如RGB LED灯。
- Type D: 光电器件和其他芯片不可分割组成，如矩阵式LED头灯。
- Type E: 包含光电器件的IC封装，如CMOS传感器。
- Type F: 带有光电和其他子组件的PCB或基板，直接连接到电路板，如脉冲激光模组。
OE-MCM的认证流程包含多个步骤，旨在确保模组中所有子组件的失效机理、连接性能及相互作用都得到全面测试。具体步骤如下：
1. 超集认证测试创建: 针对一个完整OE-MCM创建超集认证测试。如果OE-MCM中包含IC、分立半导体器件、光电器件或MEMS器件，相应的AEC-Q100、Q101、Q102或Q103测试应包含在超集测试中。同时，还需针对整个OE-MCM模组进行板级可靠性、X-Ray和超声波扫描等特定测试。
2. 合并相同失效机理测试: 将超集中相同失效机理的测试项合并为一组，以简化测试流程。
3. 评估测试覆盖性: 评估是否可以用一个测试条件和时间覆盖所有的测试项目，并确保测试条件不超过模组产品规格书规定的范围。
4. 使用通用数据和替代测试: 在条件允许的情况下，可使用通用数据或子组件级别的认证测试作为替代测试，但封装相关的测试认证仍必须在OE-MCM级别完成。
5. 执行剩余超集测试: 对未在前几步中省略的所有超集测试进行验证。
在认证过程中，失效判据包括不符合OE-MCM规范、整体模组及单独芯片的性能漂移超出允许值等。样品数量方面，认证所需的样本数量在超集定义文件中有明确规定，对于复杂的OE-MCM，可以在供应商和用户协商后适当减少样本数量。
AEC-Q102-003认证标准的颁布，为光电多芯片模组（OE-MCMs）的测试和认证提供了详尽的指导。优科检测作为专业的第三方AEC-Q102认证机构，实验室具备AEC-Q102标准CNAS全项测试资质和能力，可为LED、光电二极管、激光元件等提供全方位的车规认证试验服务。我们将继续为LED行业提供一流的技术支持，确保产品质量的可靠性与安全性。
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